【會議回顧】第四代半導體技術研討會圓滿落幕
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第四代半導體技術研討會于5月16日在杭州寶盛水博園大酒店圓滿結束。此次會議聚焦氧化鎵、金剛石、氮化鋁三大核心材料展開廣泛地交流與探討，共同推動第四代半導體材料和相關器件的技術突破和產業化進程。
攜Filmetrics F20光學膜厚測量儀、FS-RT300 多波長橢偏儀前來參展，現場觀展氛圍火熱，有不少了解膜厚儀與橢偏儀的客戶前來主動交流探討薄膜測量。
展會現場
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