『CIOE 2024深圳光博會』國產自研OFDR設備助力光模塊檢測
當前，AI技術的大規模應用加速推動了光模塊需求的釋放。相應的，針對高密度、穩定可靠的高速光互聯技術迎來重大機遇和挑戰。隨著光模塊速率越來越高，其內部光電互聯結構越來越復雜，需要測量的參數逐漸變多，常規測量方法已逐漸不能滿足全部測量需求。而高精度分布式的光頻域測量技術將填補常規設備不能測到的參量空白，補全高速光互聯、硅光芯片、光纖鏈路、耦合對接等各方面的測試標準和規范。
東隆集團自2017年推出第一臺高分辨光學鏈路診斷系統OCI，經過多年打磨完善，尤其針對硅光互聯，光纖、光波導等各種復雜的光鏈路均有很好測量效果，能夠滿足各種上下游客戶的各種場景案例測量。目前，該款產品還開發了不同版本，以針對不同客戶場景不同功能的選配，以便客戶調整測試功能與成本，實現最佳購買性價比。
高分辨光學鏈路診斷系統OCI其事件點定位精度高達0.1mm，噪聲靈敏度可達-130dB，波長重復精度±1pm，延時測量精度1ps。除此之外，該產品還能測試鏈路的光譜、插回損、距離、偏振、色散、延遲等相關光學參量，可廣泛用于光器件、光纖、對接及耦合、硅光及波導等各種光通信測試場景。
OCI檢測高速光模塊內部現在越來越多的光模塊公司對基于OFDR技術測試硅光模塊感到興趣。隨著市場容量越來越大，光互聯技術的不斷發展，新的案例、樣品也將越來越復雜，測試標準也會逐步變高。相信使用OFDR技術對光通信產品做測試應用會成為未來熱門的測試手段。
在9月11日-13日的CIOE 2024深圳光博會上，將在10B29展臺展示基于OFDR核心技術的光鏈路測量系列產品高分辨光學鏈路診斷系統OCI、低成本光學鏈路診斷系統OLI、光矢量分析儀OCI-V，期待您前往！
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