我們誠摯邀請您參加即將舉行的微區X射線熒光(micro-XRF)分析技術在線研討會。本次研討會將深入探討如何利用先進的micro-XRF技術，對復雜形狀的考古和手工藝品進行高精度的元素分析。

在本次研討會中，我們將介紹多種方法，用于測量從坩堝碎片到大型銅鍋，從印度尼西亞隕鐵刀到18世紀法國瓷器，再到意大利玻璃珠和中國陶瓷等廣泛的文化遺產對象。這些文物共同面臨的挑戰是，它們通常不適合進行micro-XRF分析。它們的三維形狀、復雜結構或非無限幾何形狀可能會使分析過程變得復雜。

我們將通過一系列案例研究，介紹不同的方法和工作流程來克服這些障礙。利用Bruker專利的Aperture Management System，即使在具有復雜外形的樣本上，也能實現高空間分辨率。這一功能使得M6 JETSTREAM能夠安全地分析復雜文物樣品，而不必擔心損壞它們。

我們推薦以下工作者參與本次討論

• 對XRF和micro-XRF作為三維材料定性和定量分析技術感興趣的所有人

• 考古學家、文物保護者、文化遺產科學家

• M4      TORNADO、M6      JETSTREAM用戶

瓷器裝飾品與M6距離4cm, 得益于AMS功能，花卉紋路裝飾可以高分辨可視化展示。

M6 JETSTREAM檢測印度尼西亞Kris匕首，測試條件：50 kV 600μA，AMS 500。

會議時間

2024年12月5日，下午5：00

報名入口

主講人

Mareike Gerken

 Application Scientist, Bruker Nano Analytics 

 Dr. Roald Taglel

Global Manager Application Science,Bruker Nano Analytics

便攜式X射線熒光光譜儀 (XRF) 已成為世界各地文物考古相關從業人員不可或缺的一種分析儀器。 它能夠在文物勘探現場對各類樣品進行非破壞性分析， 能夠同時獲得樣品中的主量元素、微量元素的成分信息，測試方便，能夠即時獲得測試結果，無需進行破壞或者二次取樣分析。

TRACER作為當前全球最先進的手持式EDXRF光譜儀，結果準確可靠,既可分析像氟（F）一樣輕的元素，也可分析到(U)這樣重的元素，為科學研究生產應用提供強大的支持。TRACER搭載了全新的測試平臺，除了能夠讓用戶根據實際需求自主控制激發條件，與此同時還結合用戶實際使用中的不同需求，增加了許多定制化的功能。用戶可使用EasyCal?軟件為TRACER 5修正或者創建校準曲線匹配自身樣品測試需求，涵蓋關注元素以及濃度范圍，校準曲線修正步驟簡單，測試結果準確可靠。

手持式XRF采用非破壞性技術，因此非常適于分析館藏金屬器、陶瓷器、珠寶玉石;野外遺址遺跡的石刻、壁畫彩繪顏料的元素分析以及日常的涉案文物鑒定等工作。除此之外還具備地球化學礦物化驗，土壤測試，油品分析，鍍層測厚等功能，若無任何校準方式符合您的應用領域，我們能為您的應用打造專屬的校準方式。

M6 JETSTREAM開放式微區 X 射線熒光光譜儀是大尺寸文物樣品（字畫、瓷器、金銀器、青銅器、壁畫等等）成分分析的首選設備。其測量結果能夠提供樣品的相關成分和元素分布的信息，甚至樣品表面下元素分布信息。

ELIO是一款緊湊式的便攜式能量色散X射線熒光光譜儀，針對一些珍貴的材質，可進行非接觸式和無損性的元素分析，具備高性能，高準確度和高精確度。ELIO利用CUBE技術可獲得準確的元素分布圖，實現測量點的準確定位，擁有直觀的硬件和分析掃描軟件，加快了XRF分析儀器的現代化進程。

CRONO是一款可移動且可重新配置的快速檢測的微型XRF掃描儀。基于EDXRF技術，可對大型樣品進行原位，非破壞性和快速檢測。XRF組件完全集成到一個緊湊的測量頭中，元素檢測范圍從Na到U,并具有高效的檢測結果，即使在低于2keV或高于25keV時(例如Sn，Sb和Ba K激發)。

M4 TORNADO微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的首選方法。采用多導毛細管聚焦鏡將激發光聚焦到非常小的區域，以獲得極佳的空間分辨率，進行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進行分析, 廣泛應用于考古藝術行業，如褪色照片的修復工作、早期古幣上的元素分析變化、陶瓷類釉面、上色的分析等等。

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