飛納電鏡Z 新選型來啦

       飛納 (Phenom) 源自 FEI，誕生于荷蘭 “發明之城” 埃因霍溫，以 “任何人都可用的電鏡” 聞 名于世，現已成為臺式掃描電鏡第 一品 牌。讓您的掃描電鏡測試變得簡單高效是我們一直以來的目標。

       2021 年，荷蘭飛納推出第二代肖特基場發射電子源臺式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，且低電壓性能優異。

       飛納目前在中國擁有 1000 多名用戶，包括：清華、北大等幾百家高校；中科院等各類研究院所；海關、公安局等政府機構；以及新能源、生命科學、半導體等企業單位。研究領域涉及金屬及合金，電池，地質，考古，高分子，靜電紡絲，陶瓷，復合材料，生物醫學，微生物等。

       飛納電鏡的操作和樣品制備流程非常簡單， 一步制樣，快速成像，獲取圖像只需點擊幾個按鈕。具有特定需求的用戶，只要投入一點時間進行培訓，就可以訪問更高級的程序。

成像僅三步即可獲得高質量圖像

1、飛納臺式場發射掃描電鏡

Phenom Pharos G2

       第二代臺式場發射電鏡 Phenom Pharos G2 的分辨率提升至優于 1.8 nm，可以輕松獲取樣品的更多細節信息。無需切換即可使用實時能譜功能，在成像的同時，快速獲取成分信息。

綜合指數：★★★★★★

放大倍數：2,000,000 X

分辨率：優于 1.8 nm

燈絲材料：肖特基場發射燈絲

抽真空時間：小于 15 秒

探測器：背散射電子探測器，二次電子探測器（選配能譜探測器）

Phenom Nano G2

       一切以圖像為中心，用戶界面全面升級，取消傳統的能譜獨立顯示屏，將電鏡、能譜、全景拼圖等操作界面集成在 1 個 24 英寸顯示屏上，為用戶提供Z 佳的操作體驗。

綜合指數：★★★★★

放大倍數：1,000,000 X

分辨率：優于 2.5 nm

燈絲材料：肖特基場發射燈絲

抽真空時間：小于 15 秒

探測器：背散射電子探測器，二次電子探測器（選配能譜探測器）

2、飛納電鏡大樣品室卓 越版

Phenom XL G2

Phenom XL G2 升級為全面屏成像，平均成像時間僅為 40 秒，系統可對Z 大 100 x 100mm 的樣品進行分析，8nm 的分辨率為分析提供更多的細節。

綜合指數：★★★★

放大倍數：200,000 X

分辨率：優于 8 nm

燈絲材料：優于 1,500 小時 CeB6 燈絲

抽真空時間：小于 20 秒

樣品室尺寸：100mm x 100mm

探測器：背散射電子探測器（選配二次電子探測器，選配能譜探測器）

3、飛納臺式電鏡能譜一體機

Phenom ProX

第六代 Phenom ProX 臺式掃描電鏡引入了全新一代操作系統，通過改進光路設計，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升級，易于操作，元素分析更快速。

綜合指數：★★★★

放大倍數：350,000 X

分辨率：優于 6 nm

燈絲材料：優于1,500 小時 CeB6 燈絲

抽真空時間：小于 15 秒

探測器：背散射電子探測器（選配二次電子），能譜探測器

4、飛納電鏡高分辨率專業版

Phenom Pro

第六代 Phenom Pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大，輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴展了研究設備的功能，結合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件，Phenom Pro 可以適用于廣泛的研究領域。

綜合指數：★★★

放大倍數：350,000 X

分辨率：優于 6 nm

燈絲材料：優于1,500 小時 CeB6 燈絲

抽真空時間：小于 15 秒

探測器：背散射電子探測器（選配二次電子）

5、飛納電鏡高性價比標準版

Phenom Pure

標準版 Phenom Pure 裝配的基本組件可以滿足高分辨率成像的要求，這些基本組件不僅可以保證電鏡高質量的成像，而且能夠實現快速裝載樣品，Z 短時間內成像。

綜合指數：★★★

放大倍數：175,000 X

分辨率：優于 10 nm

燈絲材料：優于 1,500 小時 CeB6 燈絲

抽真空時間：小于 15 秒

探測器：背散射電子探測器（選配二次電子）

6、飛納電鏡全自動解決方案

ParticleX 全自動清潔度檢測系統

       主要用于雜質或顆粒物的綜合評估，可以自動獲取大量顆粒的微觀形貌和成分信息，具體包括:

• 顆粒粒度分布

• 顆粒形貌分析 

• 雜質成分檢測 

• 高分辨率成像

       ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎，結合自動控制系統以及強大的數據庫系統，可以全自動對雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統計，為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。

Phenom GSR 槍擊殘留物分析

       在槍支犯罪事件中，槍擊殘留物（GSR）的分析發揮著重要的作用。GSR 分析技術首先基于掃描電子顯微鏡（SEM）的背散射成像，用來掃描樣品和發現 “可疑” 的 GSR 顆粒。一旦發現可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識別該顆粒的元素。Z常見的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無鉛底 火的檢測，例如 Ti 和 Zn 也可作為搜索條件進行搜索。

DiatomAITM 全自動法醫硅藻 AI 檢驗系統

       DiatomAITM 利用人工智能的技術，配合 DiatomScopeTM 實現了硅藻在電子顯微鏡下的自動掃描和自動識別。它是目前市面上Z可靠、Z高效、自動化程度Z高的硅藻檢測解決方案，幫助檢測人員在分析過程中實現硅藻的全自動檢測，識別過程全程無需人工參與。

       與落地式掃描電鏡相比，臺式掃描電鏡的價格相對具有優勢。飛納臺式掃描電鏡設計緊湊，不占空間，無需額外安裝防震臺和磁屏蔽，對安裝環境沒有特殊要求，讓您省心放心。