布魯克納米表面儀器部精彩亮相上海SEMICON展會
3月17-19日,SEMICON China 2015在上海新國際博覽ZX隆重開幕。布魯克納米表面儀器部作為表面觀測和測量技術(shù)的攜NPFLEX三維表面測量系統(tǒng)、ContourGT 系列光學(xué)形貌儀和Dimension Edge原子力顯微鏡亮相展會,倍受參展觀眾的青睞,取得了圓滿成功。
布魯克展臺參觀人員絡(luò)繹不絕,現(xiàn)場技術(shù)專家忙于為參觀客戶介紹公司產(chǎn)品。并有來自臺灣客戶對布魯克公司非常滿意,熱情的要求跟工作人員合照。現(xiàn)場氣氛火爆,在此次展會上收獲頗豐。
布魯克展臺參觀人員
應(yīng)用工程師為參觀客戶進(jìn)行產(chǎn)品講解
布魯克應(yīng)用專家黃鶴博士現(xiàn)場為客戶進(jìn)行樣品測量
臺灣客戶主動要求跟布魯克工作人員合照
客戶服務(wù)熱線:400 890 5666
郵箱:sales.asia@bruker-nano.com
網(wǎng)址:www.bruker.com/cn
作為表面觀測和測量技術(shù)的,布魯克公司納米表面儀器部提供世界上Z完整的原子力顯微鏡、三維非接觸式光學(xué)形貌儀和探針式表面輪廓儀系列產(chǎn)品。
布魯克公司納米表面儀器部一直著眼于研發(fā)新的計量檢測方法和工具,不斷迎接挑戰(zhàn),致力于為客戶解決各種技術(shù)難題,提供Z完善的解決方案。此外,還可根據(jù)工業(yè)生產(chǎn)中的操作模式和操作習(xí)慣,精簡儀器功能,針對生產(chǎn)中的特定應(yīng)用需求,為客戶量身打造相匹配的儀器設(shè)備,簡化生產(chǎn)過程的操作流程,提高工作效率。布魯克的表面測量儀器廣泛用于大學(xué)、研究所,工業(yè)領(lǐng)域的LED行業(yè)、太陽能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲行業(yè)等,進(jìn)行科學(xué)研究、產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量控制及失效分析,提供符合需求和預(yù)算的**解決方案。
ContourGT 光學(xué)形貌儀
廣泛應(yīng)用于觸摸屏、高亮度LED、太陽能電池、模具、零部件測量等各種領(lǐng)域
該系列包括基本型ContourGT-K,中端型號ContourGT-I,以及高端型號ContourGT-X和ContourGT-X8 PSS(該型號專為高亮度LED的質(zhì)量保證/質(zhì)量監(jiān)控而設(shè)計)等。每一種型號為用戶的不同需求提供解決方案,以滿足在精密制造和特定行業(yè)的要求,如高亮度LED、觸摸屏、太陽能電池、隱形眼鏡、半導(dǎo)體、硬盤、汽車和骨科等。
NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)
為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測量
布魯克的NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)為大樣品表面提供了靈活的非接觸式測量方案,可廣泛用于YL植入、航空航天、汽車或精密加工上的大型、異型工件的測量。基于白光干涉原理,NPFLEX 為用戶提供超過接觸式方法所能達(dá)到的更大數(shù)據(jù)量、更高分辨率和更好的重復(fù)性,使它成為獨(dú)立或者互補(bǔ)的測量方案。開放式的拱門設(shè)計克服了以往某些零件由于角度或取向造成的測量困難,可實現(xiàn)超過300度的測量空間。NPFLEX的超級靈活性、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和測試效率為精密加工行業(yè)提供了一種簡單的方法,來實現(xiàn)其更苛刻的加工要求、更GX的加工工藝和更好的終端產(chǎn)品。
感謝您對布魯克公司納米表面儀器的繼續(xù)關(guān)注!
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