選型指南 | 安東帕材料表征儀器,助力前沿科學(xué)研究
安東帕 Anton Paar總部位于奧地利,在密度和濃度的測(cè)量,溶解二氧化碳的測(cè)定,以及在流變學(xué)和黏度測(cè)量領(lǐng)域處于世界領(lǐng)先地位。致力于為食品飲料、石油石化、制藥、高校科研、質(zhì)檢、商檢、藥檢和出入境檢驗(yàn)檢疫等領(lǐng)域提供量身定制的檢測(cè)解決方案。
安東儀器選型指南是材料表征部門整合公司在材料表征領(lǐng)域的完整解決方案,為科研研發(fā)提供一本一目了然、綜合系統(tǒng)的儀器選型指南。點(diǎn)擊下方圖片,下載指南手冊(cè)。
安東帕材料表征儀器
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1
流變學(xué)和動(dòng)態(tài)力學(xué)
流變學(xué)測(cè)量應(yīng)用極為廣泛,是材料物理性能研究及工業(yè)生產(chǎn)中極為重要的表征手段,如黏度、儲(chǔ)能模量、損耗模量、Tanδ、觸變性、屈服應(yīng)力等。
MCR系列流變儀是先進(jìn)流變測(cè)量技術(shù)的集大成者,涵蓋從液體到固體、粉體的所有應(yīng)用領(lǐng)域。并可以擴(kuò)展動(dòng)態(tài)熱機(jī)械(DMA)、粉體流動(dòng)、摩擦學(xué)、界面流變學(xué)、高溫高壓流變等特殊功能,并由專業(yè)團(tuán)隊(duì)為您提供Z專業(yè)的應(yīng)用服務(wù)!
X 射線分析
2
X射線衍射儀(XRD)
- 粉末XRD、非環(huán)境XRD、PDF分析和SAXS提供Z優(yōu)化的解決方案
全自動(dòng)SAXS/WAXS散射分析裝置
- 無損分析聚合物、介孔材料、液晶和分散液等的納米結(jié)構(gòu)
3
比表面與孔徑分析
美國(guó)康塔公司是世界領(lǐng)先的多孔材料表征儀器制造商,2018年并入安東帕公司。
產(chǎn)品包括氣體物理吸附法比表面積和孔徑分析儀、全自動(dòng)氣體吸附分析儀、化學(xué)吸附分析儀、高壓吸附儀、蒸汽吸附分析儀、壓汞儀、通孔分析儀、真密度分析儀、振實(shí)密度測(cè)量?jī)x等。
微納米表面力學(xué)
4
涵蓋納米或微米尺度下材料力學(xué)性能的表征,包括壓痕、劃痕及摩擦磨損等功能模塊。
可以獲得材料硬度、彈性模量、薄膜與界面結(jié)合力和摩擦磨損等性能,可控制溫度與氣氛等環(huán)境條件。
具有較高的靈活性及擴(kuò)展性。
5
粒度分析
安東帕提供三種技術(shù)來表征從納米到毫米范圍內(nèi)的顆粒特性:
Litesizer 系列:動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),納米尺度粒度分析PSA 系列:激光衍射技術(shù),微米尺度粒度分析
DIA 500:動(dòng)態(tài)圖像分析技術(shù),同時(shí)測(cè)量尺寸分布和形狀特性參數(shù)
Zeta電位分析
6
應(yīng)用于材料表面電性能分析,有兩種原理。
一是電泳光散射法:Litesizer納米粒度儀同時(shí)可以測(cè)量液相中納米顆粒表面的Zeta電位。
二是流動(dòng)電位法:SurPASS 3可以測(cè)量固體表面在環(huán)境中的表面Zeta電位。
7
紅外光譜
應(yīng)用于入庫(kù)來料檢查,識(shí)別未知物質(zhì),確保Z終產(chǎn)品的質(zhì)量。可以檢測(cè)固體、液體和氣體樣品。模塊化測(cè)量池設(shè)計(jì)可兼容各種ATR附件和透射測(cè)量池。
拉曼光譜
8
應(yīng)用于表征材料化學(xué)成分/質(zhì)量控制/合成過程監(jiān)測(cè)/反應(yīng)動(dòng)力學(xué)參數(shù)測(cè)定/原材料快速檢測(cè)/晶型分析/碳材料結(jié)構(gòu)測(cè)量等。
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