2019年12月3日，TESCAN公司和上海交通大學分析測試ZX聯合舉辦的掃描電鏡-原子力聯用技術（CPEM）交流會在熱烈的氣氛中成功舉辦，三十多位校內外學者和學生參加了本次交流會。

交流會上TESCAN公司顧群經理首先以 《TESCAN All-IN-One 綜合顯微分析系統簡介》為報告主題，介紹了 TESCAN 創新的 ALL IN ONE 設計理念，在此理念下TESCAN在電鏡綜合分析性能的拓展上已經進行了多項創新，使得在TESCAN電鏡平臺上同時接入EDS、EBSD、CL、Raman、TOF-SIMS、AFM等多種分析附件以及原位的加熱臺、拉伸臺等成為可能, 成為真正的可以提供二維、三維、四維動態的高分辨形貌觀測、成分分析、微量輕元素檢測及化學結構解析等集多種分析功能于一體的綜合電鏡分析平臺。All-In-One的理念已經被廣大老師認同，用戶數量不斷增多，國際和國內客戶的科研成果也不斷涌現。

顧群 經理 精彩報告

之后，NenoVision公司的Jan Neuman 博士帶來了《LiteScope:?AFM in SEM?Plug-and-play?AFM add-on?for?SEM?microscopes》的精彩報告，Jan Neuman 博士首先介紹了 NenoVision 公司，該公司成立于2015年，主要人員來自于捷克共和國的布爾諾理工大學和中歐理工學院(CEITEC)。NenoVision公司專注于特殊類型的原子力顯微鏡，其知名產品——LiteScope?，很容易安裝到掃描電鏡中。Jan Neuman 博士在報告中例舉了很多各領域的實際應用案例，通過AFM和SEM兩者的聯用，可以同時充分發揮兩種測量技術的優點，大大拓展了樣品的分析。

NenoVision公司，?Jan Neuman?博士 精彩報告

新穎的應用引起了與會人員的極大興趣，會后進行了熱烈地交流，不少老師預約了當天下午開始的連續3天的 DEMO 測試。演示使用的是 TESCAN GAIA3 ?FIB-SEM，僅僅幾分鐘時間，AFM就快速地安裝進入了電鏡設備中。演示過程中，TESCAN 和?NenoVision 公司的應用專家們通過和老師的積極交流，現場就獲得了JJ的圖片和分析數據。

上海交通大學 分析測試ZX 參觀演示