瞬態光譜儀原理和分類
用來對閃光時間不低于1e-4s的瞬態光源光譜特性進行測量的儀器，稱為瞬態光譜儀。瞬態光電攝譜技術和雜散次級光譜濾除技術為瞬態光譜儀的核心技術。
組成
1、線陣電荷耦合器件探測器;
2、電荷耦合器件驅動放大電路;
3、高速數據采集存儲系統;
4、計算機
5、人射狹縫;
6、平面反射鏡;
7、第yi球面反射鏡;
8、平面閃耀光柵;
9、第二球面反射鏡;
原理
被測光源的入射光被人射狹縫接收，入射光通過平面反射鏡反射以后，第yi球面反射鏡將其準直成平行光,之后平面閃耀光柵將其分光成一束平直光譜線，再經過第二球面反射鏡利用濾光片濾除紫外、可見或近紅外線后在線陣電荷耦合器件探測器的光敏面上準確地成像，利用線陣電荷耦合器件探測器轉化成電信號，電信號利用電荷耦合器件驅動放大電路以及高速數據采集存儲系統來進行處理，數據通過計算機進行處理和標定以后，將所測光譜的參數顯示出來。
分類
瞬態光譜儀按照波長來劃分包括近紅外瞬態光譜儀、可見光瞬態光譜儀以及紫外瞬態光譜儀。
近紅外瞬態光譜儀
積分時間線性:大于90%;
光譜輻亮度測量擴展不確定度:U等于8%(k等于2);
相對光譜功率測量擴展不確定度:U等于5%(k等于2)。
波長范圍:780納米-1750納米;
波長zui大允許誤差:±2.0納米;
響應時間:小于1秒;
可見光瞬態光譜儀
光譜輻亮度測量擴展不確定度:U等于5%(k等于2);
相對光譜功率測量擴展不確定度:U等于3%(k等于2);
色溫zui大允許誤差:±20K;
色品坐標zui大允許誤差(△x,△y):±0.008
波長范圍:380納米~780納米;
波長zui大允許誤差:±1.0納米;
響應時間:小于1秒
積分時間線性:大于90%;
紫外瞬態光譜儀
積分時間線性:大于90%
光譜輻亮度測量擴展不確定度:U等于8%(k等于2);
相對光譜功率測量擴展不確定度:U等于5%(k等于2)
波長范圍:250納米~380納米;
波長zui大允許誤差:±0.5納米;
響應時間:小于1秒
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