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- 傘之過 2017-10-29 00:00:00
- 1 透射電子顯微鏡 透射電子顯微鏡 透射電子顯微鏡 透射電子顯微鏡概要 概要 概要 概要 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy,簡作TEM)是把經(jīng)加速和聚集的 電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。 散射角的大小與樣品的密度、厚度相關,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射電子顯微鏡的分辨率為0.1~0.2nm,放大倍數(shù)為幾萬~百萬倍,用于觀察超微結構,即小于0.2µm、光學顯微鏡下無法看清的結構,又稱“亞顯微結構”。透射電鏡特別適合對微細礦物及隱晶質礦物和超細粉體的形貌及結構分析,它決定了偏光顯微鏡分辨率低的不足,又克服了 X射線衍射儀不能直接觀察礦物形貌的困難。 透射電子顯微鏡在礦物加工與利用中具有著重要的應用和前景。 TEM用電子束作光源,用電磁場作透鏡。另外,由于電子束的穿透力很弱,因此用于電 鏡的標本須制成厚度約 50nm 左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機(ultramicrotome)制作。透射電子顯微鏡是使用電子來展示物件的內(nèi)部或表面的顯微鏡。 高速的電子的波長比可見光的波長短(波粒二象性),而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制,因此TEM的分辨率遠高于光學顯微鏡的分辨率。 2 TEM TEMTEM TEM 在各個領域中的應用 在各個領域中的應用 在各個領域中的應用 在各個領域中的應用TEM廣泛應用于生物學、醫(yī)學、化學、物理學、地質學,金屬、半導體材料、高分子材料、陶瓷、納米材料等領域。透射電子顯微鏡在生物、醫(yī)學中的應用極大地豐富了組織學和細胞學的內(nèi)容,觀察到了許多過去用光學顯微鏡觀察不到或觀察不清的細胞微體結構。TEM在材料科學中可對材料進行形貌觀察、物相分析、晶體結構觀察、微區(qū)化學成分分析、元素分布等進行分析等。 TEM可用來分析各種金屬材料,無機非金屬材料,高分子材料,化學工程材料,納米材 料等的微觀形貌、晶體結構。 3 透射電鏡在礦物加工與利用中的應用 透射電鏡在礦物加工與利用中的應用 透射電鏡在礦物加工與利用中的應用 透射電鏡在礦物加工與利用中的應用 3.1 工藝礦物學研究 工藝礦物學研究 工藝礦物學研究 工藝礦物學研究
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- 偏光顯微鏡MP41+研究級相機MSX10助新材料研究檢測結構
某知名高校復合材料研究所針對新材料缺陷檢測這一重要問題,與明美攜手,共同推進新材料領域的發(fā)展。而新材料研究過程需要不斷論證其結構有沒有缺陷,需要通過各手段或方法來檢測是否存在缺陷,并在研究新材料生產(chǎn)中調整結構來達到其研究的要求。而偏光顯微鏡在當中發(fā)揮檢測新材料缺陷檢測的方法。我司銷售工程師為其推薦明星產(chǎn)品MP41+MSX10用以檢測新材料,其中MSX10是采用大靶面芯片,其2000萬像素、高分辨率、高對比度和顏色還原準確的特點等優(yōu)異的功能征服在場的研究人員,圖片采集的效果得到贊賞。
新材料是指新近發(fā)展或正在研發(fā)的、比傳統(tǒng)材料性能更加優(yōu)異的一類材料,是高技術產(chǎn)業(yè)發(fā)展的基礎和先導,其研究水平和產(chǎn)業(yè)化規(guī)模已成為衡量一個國家和地區(qū)經(jīng)濟發(fā)展、科技進步和國防實力的重要標志,被視為21世紀Z具發(fā)展?jié)摿Φ念I域之一,也是國家確立的優(yōu)先培育發(fā)展的七大戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)之一。新材料產(chǎn)業(yè)應用范圍廣、產(chǎn)業(yè)關聯(lián)度高、經(jīng)濟帶動力強、發(fā)展?jié)摿Υ螅谴龠M經(jīng)濟快速增長和提升企業(yè)地區(qū)競爭力的源動力。
拍攝效果圖:
MSHOT透反射偏光顯微鏡MP41技術參數(shù)
MSHOT透反射偏光顯微鏡MP41功能特點
粗微動同軸調焦機構,粗動松緊可調,帶限位鎖緊裝置,微動格值:2μm。
偏光觀察裝置可移入或移出光路,起偏器與檢偏器均可360°旋轉。
旋轉式載物臺,360°等分刻度,游標格值6',ZX可調,帶鎖緊裝置,工作臺垂直有效行程可達 30mm。
寬電壓電源(85-265V 50/60Hz). 6V30W鹵素燈照明,亮度可調。
三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影,攝影時可通光,適合低照度顯微圖像拍攝。
(來源:廣州市明美光電技術有限公司 )
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