東隆科技致力于為光通信用戶提供更先進、更穩定、更可靠的測試解決方案，推出了一系列光學測量測試系統。

      今日，重點推薦高分辨光學鏈路診斷系統（OCI）與光學矢量分析系統（OCI-V）這兩款光通信測量系統神器，圍繞它們的測量原理、測量參數、產品應用進行PK，您會如何選擇？

OCI高分辨光學鏈路診斷系統

? 單端反射式測量

? 分布式回損、插損、光譜、群延時測量

OCI-V光矢量分析系統

? 雙端透射式測量

? 自校準

1、測量原理有何不同？

高分辨光學鏈路診斷系統（OCI）采用的是OFDR光頻域反射技術，檢測待測光纖中背向瑞利散射信號，實現對光纖鏈路的全方位診斷；

光學矢量分析系統（OCI-V）采用線性掃頻光源對帶測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得各光學參數。

2、測量參數有哪些？

高分辨光學鏈路診斷系統（OCI）

? 分布式插損、回損、光譜、群延時等光學參數；

光學矢量分析系統（OCI-V）

? PDL（偏振相關損耗）

? PMD（偏振模色散）

? IL（插損）

? GD（群延時）

? CD（色散）等

注明：它們在測量不同波長下的各參數值時，系統設備顯示上也有所差異，OCI顯示橫坐標為長度，縱坐標為反射；OCI-V顯示橫坐標為波長，縱坐標為各待測參數。

3、產品應用知多少？

高分辨光學鏈路診斷系統（OCI）

? 光器件

? 光模塊測量

? 光纖長度精確測量

? 硅光芯片測量

? 光譜

? 群延時測量等

光學矢量分析系統（OCI-V）

? 無源器件（平面波導器件、硅光器件、波長可調器件、放大器等）測量

4、測試示例圖

OCI測量光纖鏈路，測得各位置處的分布式損耗，空間分辨率高達10μm

OCI-V測量HCN氣體吸收室，測得不同波長下的插損，波長精度可達1.6pm

總結：

高分辨光學鏈路診斷系統（OCI）與光學矢量分析系統（OCI-V），均具備自校準，無需人為干預等特點，其穩定性非常好，也能精準測量各待測參數，并且極大節省測試時間。