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塑料薄膜測厚儀怎么調試
在工業生產中,塑料薄膜的厚度檢測對產品質量的控制至關重要。為了確保測量數據的準確性與一致性,合適的調試過程顯得尤為重要。本篇文章將詳細介紹塑料薄膜測厚儀的調試方法與注意事項,幫助工程師和操作人員正確設置儀器,確保測量結果的可靠性,從而提升生產效率和產品質量。
塑料薄膜測厚儀的工作原理
塑料薄膜測厚儀主要依靠傳感器通過反射或穿透方式測量薄膜的厚度。常見的測厚原理包括電容式、超聲波式和激光式等。這些技術的選擇依據薄膜的材質、厚度范圍以及測量精度要求不同而有所區別。了解其基本工作原理有助于我們在調試時進行更的設置。
調試步驟
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確認儀器設置 在開始調試前,首先需要確認儀器的電源、顯示系統以及測量傳感器的連接情況。檢查電池或電源的電量,確保儀器正常啟動。
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選擇合適的測量模式 不同的測量模式適用于不同類型的薄膜材料。例如,電容式測厚儀適用于非導電薄膜,而超聲波式則常用于較厚的薄膜。在儀器中選擇正確的模式對于確保測量的準確性至關重要。
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校準測量系統 校準是調試過程中至關重要的環節。通常,可以使用標準厚度的塑料薄膜作為參考進行校準。確保校準后儀器顯示的讀數與標準值一致。此過程不僅能排除系統誤差,還能提升測量的穩定性。
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設置測量參數 在完成基礎設置后,需要根據生產需求調整測量精度、測量間隔和數據輸出格式等參數。這些設置決定了測量的響應速度及數據處理的靈活性。
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環境影響評估 塑料薄膜的厚度測量可能會受到溫度、濕度等環境因素的影響。因此,在調試時應注意環境的穩定性,并根據需要對儀器進行溫度補償或其他校準。
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進行測試和驗證 在完成上述步驟后,進行樣本測量并與已知厚度的薄膜進行對比,確保測量結果準確無誤。如果發現偏差,應重新調整儀器設置或進行二次校準。
調試中的常見問題及解決方法
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測量不穩定 如果測量數據波動較大,首先檢查傳感器的接觸情況,確保薄膜平整并且測量面與傳感器接觸良好。排除外界振動或噪音對測量的影響。
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顯示異?;驘o顯示 此類問題通常與電源、電池或連接問題有關。檢查電池電量和電源連接是否正常,同時確保顯示屏未受到損壞。
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精度偏差 如果測量結果存在較大誤差,可以通過重新校準、調整測量模式或更換測量傳感器來解決。
結論
塑料薄膜測厚儀的調試過程是確保測量精度和設備穩定性的關鍵環節。通過合理的設置和校準,可以顯著提高測量的準確性,減少生產過程中可能出現的質量問題。因此,操作人員必須深入了解儀器的工作原理,并嚴格按照調試步驟進行調整,從而確保每一項測量都符合高標準的要求。在實際應用中,合理調試不僅能夠提高生產效率,還能有效保證產品的一致性和可靠性。
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白光干涉測厚儀怎么測量
白光干涉測厚儀作為一種高精度的表面測量工具,廣泛應用于材料科學、電子制造、光學檢測等領域。其核心原理是利用干涉效應來測量薄膜或涂層的厚度。通過白光干涉技術,能夠在不接觸表面的情況下,精確測量不同厚度的薄膜層,尤其適用于高精度、微小尺寸的測量任務。本文將詳細介紹白光干涉測厚儀的工作原理、測量步驟及其應用范圍,幫助讀者深入理解這一技術的優勢與實際操作方法。
白光干涉測厚儀的工作原理
白光干涉測厚儀利用的是光的干涉現象。當白光照射到待測物體的表面時,光線會發生反射,部分光線從物體的上表面反射,部分光線從物體的底部反射。當這兩束反射光重合時,因波長差異產生干涉。通過分析干涉條紋的變化,可以精確計算出物體表面與底層之間的厚度。其優點在于白光干涉測量可以在不接觸物體的情況下進行,并且具有非常高的精度,適合微米級甚至納米級的薄膜厚度測量。
白光干涉測厚儀的測量步驟
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準備工作:確保白光干涉測厚儀的光源和探測器正常工作,并進行設備的校準,以確保測量結果的準確性。
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樣品放置:將待測物體穩固地放置在儀器的測量平臺上,確保樣品表面平整,避免因表面不規則導致測量誤差。
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光源照射:儀器發出寬譜的白光照射到樣品表面。待測物體的上表面和底部表面會分別反射光線。
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干涉條紋分析:通過儀器內的探測器接收反射回來的光信號,并進行干涉條紋的分析。干涉條紋的變化與待測物體的厚度成正比。
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厚度計算:系統會根據干涉條紋的變化,通過計算分析,輸出樣品的厚度數據。此時,儀器已經完成了整個測量過程。
白光干涉測厚儀的應用
白光干涉測厚儀廣泛應用于各個領域,特別是在半導體、光學薄膜、涂層和納米技術領域。其優勢在于能夠提供非接觸、高精度的測量,避免了傳統接觸式測量可能帶來的表面損傷。由于其高分辨率,能夠滿足不同精度需求的測量任務,特別是在要求薄膜厚度非常精確的場合,如光學元件的制造、電子器件的測試等。
專業總結
白光干涉測厚儀憑借其無接觸、高精度的特點,成為了測量薄膜厚度的理想工具。通過干涉效應,儀器能夠提供精確的厚度數據,廣泛應用于科研、工業制造等多個領域。其操作流程簡便、測量精度高,尤其適合微米至納米級別的薄膜測量需求,是現代科技領域中不可或缺的高精度測量設備。
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薄膜連續測厚儀怎么用:操作指南與技術要點
薄膜連續測厚儀是一種廣泛應用于薄膜材料生產與檢測過程中的精密儀器,能夠對各種薄膜材料的厚度進行實時、連續的測量。本文將詳細介紹薄膜連續測厚儀的使用方法、操作步驟以及關鍵的技術要點,幫助用戶更好地掌握該儀器的使用技巧,提高測量準確性和工作效率。
1. 薄膜連續測厚儀的基本原理與結構
薄膜連續測厚儀主要通過非接觸式測量原理來獲取薄膜厚度數據。常見的測量原理包括激光反射、渦流、超聲波等技術。這些技術能夠在不破壞薄膜表面的情況下,實時獲取其厚度信息。儀器一般由傳感器、控制系統、顯示界面和數據存儲模塊組成,傳感器根據不同的測量原理進行安裝,并通過實時數據反饋與顯示,提供準確的厚度值。
2. 薄膜連續測厚儀的操作步驟
2.1 校準儀器
在使用薄膜連續測厚儀之前,首先要對儀器進行校準。校準過程可以確保測量數據的準確性。具體校準步驟根據儀器的不同型號有所差異,但通常都包括對標準樣本進行測量,并調整儀器參數以保證其測量精度。
2.2 設置測量參數
根據測量對象的不同,用戶需要設置相應的測量參數,例如測量模式、測量速率、單位選擇等。薄膜的種類、厚度范圍以及生產環境可能會影響儀器的設置,因此在操作之前應根據實際情況進行調整。
2.3 開始測量
在完成校準和設置后,用戶可以將薄膜放置在儀器的測量區域,啟動測量程序。薄膜連續測厚儀能夠在生產線中持續監測薄膜厚度,提供實時數據反饋。儀器通常支持多點測量,可以為用戶提供全面的厚度分布信息。
2.4 數據分析與記錄
測量完成后,儀器會自動生成厚度數據報告。用戶可以通過儀器的顯示屏查看實時數據,也可以將數據導出到計算機進行進一步分析。對于生產過程中出現的厚度異常,儀器通常會發出警告提示,便于及時進行調整和修正。
3. 薄膜連續測厚儀的應用領域
薄膜連續測厚儀廣泛應用于電子、光伏、涂料、包裝等行業。在電子行業中,薄膜厚度的控制對電路板的品質至關重要;在光伏行業,太陽能電池薄膜的厚度直接影響到光電轉化效率;而在包裝行業,薄膜的均勻性和厚度對產品的保護性和耐用性有著重要影響。
4. 注意事項與維護
- 定期校準與檢查:為了確保儀器的長期穩定性,建議定期進行校準,并檢查傳感器是否受到污染或損壞。
- 操作環境控制:薄膜連續測厚儀的精度受環境因素影響較大,如溫度、濕度及振動等因素。應盡量在穩定的環境條件下進行測量。
- 清潔與保養:儀器的傳感器和其他部件需要定期清潔,避免灰塵、污漬等對測量結果的干擾。
5. 結論
薄膜連續測厚儀的使用對于提高生產線的自動化水平、保證產品質量具有重要意義。通過合理的操作流程、準確的參數設置和細致的維護,用戶能夠充分發揮該儀器的優勢,確保薄膜厚度測量的高效性與性。掌握測量技巧與技術要點是保證測量數據可靠性的關鍵,因此,操作人員需要在實際應用中不斷積累經驗,優化儀器的使用效果。
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X射線測厚儀怎么調節:全面解析與操作指南
X射線測厚儀是現代工業生產中廣泛應用于金屬、塑料、涂層等材料厚度測量的重要設備。它通過射線穿透待測材料,并根據透過物質的強弱來計算出其厚度。為了確保測量數據的度和可靠性,X射線測厚儀的調節顯得尤為關鍵。正確的調節不僅能提高設備的測量精度,還能延長儀器的使用壽命。本文將從操作步驟、常見問題解決方案以及維護技巧等多個方面,詳細介紹如何調節X射線測厚儀,幫助操作人員掌握設備調節的要點,提高工作效率和測量準確性。
1. X射線測厚儀的基本原理
在探討如何調節X射線測厚儀之前,我們需要了解它的基本原理。X射線測厚儀通常通過放射源發射X射線,并通過待測物體的不同吸收程度,反射到探測器上,再通過計算吸收率的變化來測量物體的厚度。由于X射線的穿透特性和物質的密度、厚度有直接關系,設備會通過實時檢測這些變量,得出準確的厚度數據。
2. 調節X射線測厚儀的前期準備工作
在調節X射線測厚儀之前,確保設備已經通過定期校準和安全檢查。設備的使用環境、溫度和濕度等因素都會對測量結果產生影響,因此,首先需要確保儀器處于標準工作環境中。檢查以下幾個方面:
- 設備的電源和接地是否正常;
- 檢測源和探測器是否清潔;
- 儀器的顯示屏和連接線是否完好;
- 確保儀器外殼無損壞,保證操作人員的安全。
3. X射線測厚儀的調節步驟
調節X射線測厚儀的過程涉及幾個關鍵步驟,下面詳細講解每個步驟。
(1)設置標準厚度
使用已知厚度的標準樣品進行測試。根據實際情況,選擇不同厚度的標準樣品并在儀器上輸入相應的厚度值。這是校準設備的步。通過與標準厚度樣品的測量值進行比較,可以調整儀器的顯示,確保測量值與實際值相符。
(2)調整X射線源的強度
X射線源的強度直接影響測量的準確性。太高的強度會導致過度的射線穿透,從而造成信號誤差;而過低的強度可能導致信號太弱,無法有效反映厚度變化。通常,X射線測厚儀的強度調節可以通過調整射線源的電壓、射線源與物體的距離等參數來實現。根據測量對象的材料特性,合理調節射線源的輸出強度,以獲得佳的測量精度。
(3)設置探測器靈敏度
探測器的靈敏度直接決定了信號的接收效果。過低的靈敏度會導致儀器無法正確探測微小的厚度變化,過高的靈敏度則可能引起過度反應。通過儀器菜單中的設置選項,調節探測器的靈敏度,確保其能準確捕捉到通過材料的X射線信號。
(4)校準零點和增益
校準零點和增益是確保測量準確性的另一重要步驟。通過使用已知厚度的標準樣品,設置零點值并調整增益(即對測量信號的放大倍數)。此過程對于不同的測量場合和材料類型可能會有所不同,因此需要根據具體情況進行調節。
4. 常見問題與調節技巧
在使用X射線測厚儀的過程中,操作人員可能會遇到一些常見問題。以下是幾種典型問題及其解決方案:
- 測量值不穩定:可能由于射線源的強度設置不當、探測器靈敏度過高或過低,建議重新校準設備,調整靈敏度和強度。
- 測量值偏差較大:此問題通常與標準樣品的選擇或設備的零點校準有關,檢查標準樣品的準確性,確保設備的零點設置正確。
- 顯示屏無反應或亂碼:檢查設備連接線路是否正常,嘗試重啟儀器或檢查顯示模塊是否故障。
5. X射線測厚儀的維護與保養
調節完X射線測厚儀后,定期的維護保養至關重要。定期檢查設備的射線源和探測器、清潔表面、檢查儀器的軟件更新等,可以有效延長設備的使用壽命。每年進行一次設備的全面校準,確保測量結果的長期準確性。
結論
X射線測厚儀的調節是一項需要高度專業知識和細致操作的任務。通過合理的調節,可以顯著提高設備的測量精度和工作效率。無論是調整射線源的強度、校準探測器的靈敏度,還是進行零點和增益的設置,每一個步驟都需要操作人員嚴格遵循標準操作流程,以確保設備始終處于佳狀態。因此,在使用X射線測厚儀時,不僅要注重操作技巧,還要關注設備的長期維護和優化,這樣才能確保測量結果的準確性和設備的長期穩定性。
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電渦流式測厚儀怎么校正
電渦流式測厚儀是一種常用的無損檢測工具,廣泛應用于材料的厚度測量中,尤其是在金屬、涂層以及其他非磁性材料的測量中。為了保證測量結果的準確性和可靠性,定期的校正是非常必要的。本文將詳細介紹電渦流式測厚儀的校正方法、步驟以及需要注意的關鍵點,幫助用戶正確操作和維護儀器,確保測量精度,減少測量誤差。
電渦流式測厚儀的原理
電渦流式測厚儀基于電渦流原理,利用高頻電流在導電材料中產生的電渦流效應,通過測量渦流的變化來判斷材料的厚度。該方法對待測物體表面無損傷,且對非磁性材料(如鋁、銅、塑料涂層等)的測量具有較高的精度。由于電渦流的測量結果受多種因素的影響,如材料表面狀況、溫度變化等,因此儀器需要定期校正,以保證其準確性。
電渦流式測厚儀校正的必要性
校正是確保測厚儀準確性和可靠性的關鍵步驟。由于電渦流測量受多種變量影響,如測量環境、材料特性以及探頭與被測物表面的接觸情況等,若不定期校正,可能會導致讀數偏差,從而影響測量結果的可信度。因此,通過標準校正件或校正板來進行校正,是確保儀器準確測量的必要環節。
電渦流式測厚儀的校正方法
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選擇校正標準件
校正時,首先需要選擇與被測材料相同或相似的標準件。校正件的材質、厚度以及表面狀態應與實際測量環境相符。一般來說,可以使用已知厚度的金屬塊、涂層樣本或具有已知厚度的標準片。
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調整儀器設置
在開始校正前,確保測厚儀的電池電量充足,儀器的設置參數(如頻率、測量模式等)應根據校正件的特性進行適當調整。有些測厚儀提供自動校正功能,用戶可通過選擇合適的預設模式來完成校正。
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校正步驟
將標準校正件平穩地放置在儀器的探頭下,確保探頭與表面接觸良好且垂直。按照儀器說明書上的校正流程進行操作。一般來說,測厚儀會要求用戶對比標準件的厚度與儀器顯示的值,根據顯示結果調整儀器的讀數,直到讀數與標準件的實際厚度一致。
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多點校正
為確保高精度測量,建議在多個不同位置進行校正,尤其是當被測物表面存在不規則時,多個測量點能幫助提升校正的準確性。校正時,檢查不同位置的讀數是否一致,如果發現較大偏差,可能需要檢查儀器是否存在故障或探頭是否損壞。
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記錄和驗證
完成校正后,建議記錄下校正數據,并定期檢查儀器的狀態。對于重要測量任務,好進行一次驗證測量,確保校正結果的有效性。校正后,應進行一段時間的實際測量驗證,以保證測厚儀始終保持佳性能。
電渦流式測厚儀校正時的注意事項
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環境因素
測量環境的溫度、濕度、振動等都會影響校正結果。因此,校正時應盡量在穩定的環境中進行,避免環境波動影響儀器的性能。
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標準件的選擇
選擇標準件時,要確保其厚度精度和表面平整度符合校正要求。任何微小的偏差都會影響到終的校正效果。
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儀器維護
定期檢查電渦流式測厚儀的探頭、顯示屏和接口等部件,保持儀器清潔,避免灰塵或腐蝕物影響測量精度。
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定期校正
即便測量儀器的誤差不明顯,定期校正也是確保長期準確性的必要措施。推薦至少每半年進行一次全面的校正,尤其是在頻繁使用的情況下。
結論
電渦流式測厚儀的校正不僅是保證其測量精度的關鍵,也是確保儀器長期穩定運行的基礎。通過定期校正、選擇合適的校正標準件、調整合適的儀器設置,并關注環境因素的變化,可以大大減少誤差,確保測量結果的可靠性。在進行電渦流式測厚儀校正時,務必嚴格按照標準操作流程進行,保障測量的高效性與準確性。
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- X射線鍍層測厚儀怎么校準
X射線鍍層測厚儀是工業生產中常用的精密測量工具,廣泛應用于金屬、塑料等材料的鍍層厚度測量。由于其高精度和非破壞性測量特性,它在航空航天、汽車制造、電子產業等領域扮演著重要角色。為了確保測量數據的準確性和可靠性,定期的校準是必不可少的。本文將詳細探討如何正確校準X射線鍍層測厚儀,以幫助使用者提高測量精度和設備的長期穩定性。
1. 校準X射線鍍層測厚儀的重要性
X射線鍍層測厚儀依靠高能X射線穿透被測物體的鍍層,并根據射線的吸收情況來計算厚度。校準過程確保儀器能夠在測量過程中提供準確的厚度數據。若未進行及時校準,可能導致測量誤差,進而影響產品質量和生產效率。因此,校準是確保測量精度、維護儀器穩定性以及滿足質量控制要求的關鍵步驟。
2. 校準前的準備工作
在進行校準之前,首先要確保儀器和校準環境處于正常工作狀態。環境溫度、濕度等因素可能對測量結果產生影響,因此,校準應在標準實驗室條件下進行。選擇適合的標準樣品至關重要,通常選擇與實際生產中測量對象相似的材料,確保校準結果具有代表性。
3. 校準過程
步驟一:選擇合適的校準標準樣品
選擇標準樣品時,需確保其厚度已知且接近生產中常見的鍍層厚度。常用的標準樣品包括標準鍍層或多層鍍膜樣品,它們具有與被測物相似的材質和厚度。
步驟二:設置儀器參數
根據標準樣品的材質和厚度,調整X射線鍍層測厚儀的相關參數,如射線能量、探測器靈敏度等。這些參數直接影響到測量的準確性,需根據具體情況進行調節。
步驟三:測量并記錄數據
將標準樣品置于儀器測量區域,進行多次測量,并記錄每次測量的結果。通常來說,進行三次以上的測量有助于減少偶然誤差,并提高測量數據的可靠性。
步驟四:數據對比與調整
將實際測量數據與標準值進行對比,計算出誤差范圍。如果發現測量值與標準值有較大偏差,需要根據儀器的校準曲線進行修正。通過調整儀器內部的補償參數來消除測量誤差,直到測量值達到標準要求。
步驟五:記錄校準結果
完成校準后,必須記錄校準過程中的所有數據,包括測量值、調整參數和校準曲線等。這些數據不僅有助于后期的質量追溯,還能作為儀器維護和驗證的依據。
4. 定期校準與維護
X射線鍍層測厚儀的校準并不是一次性的任務。隨著使用時間的增加,儀器的性能可能會出現波動,定期校準可以有效避免誤差累積。因此,建議定期對儀器進行校準,并對其進行全面的維護和檢查。儀器校準的周期應根據實際使用情況和設備制造商的建議來確定。
5. 常見校準問題及解決方案
在校準過程中,使用者可能會遇到一些問題,如測量不穩定、誤差較大等。這些問題可能由多種因素引起,包括樣品表面不平、環境條件變化、儀器探測器損壞等。遇到此類問題時,應首先檢查儀器的狀態,確保其正常工作;調整環境條件,確保校準過程的穩定性;必要時可聯系專業技術人員進行維修或更換部件。
結語
X射線鍍層測厚儀的校準是一項復雜而精細的工作,需要專業的技術支持和操作經驗。通過定期校準和維護,使用者可以確保儀器的測量精度和穩定性,從而在各個工業領域中實現高效且的鍍層測量。為確保設備的長期穩定運行,定期校準及合理使用儀器至關重要。
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- 智能氫氣發生器的故障分析
智能氫氣發生器在使用過程中偶爾會出現以下一些現象,我們在遇到時該如何處理呢?
故障現象①:智能氫氣發生器不能啟動
故障原因:(1)電路沒有接通;(2)氫氣開關電源損壞;(3)在壓力為0空載運行時電解池燒壞。
檢查方法:(1)檢查電路;(2)用萬用表測量電解池的電壓是否在2.3V左右。
排除方法:(1)修理電源;(2)更換損壞的氫氣開關電源;(3)更換電解池。
故障現象②:產氫達不到預定的壓力,氫氣數顯顯示在500ml/min以上,即儀器顯示量超出實際使用量較大
故障原因:(1)氣路系統漏氣;(2)過濾器或過濾器上蓋沒有擰緊;(3)氫氣電解池反漏。
檢查方法:用檢漏液檢測各氣路連接處。
排除方法:(1)更換漏氣元件;(2)擰緊漏氣點;(3)聯系廠家更換電解池。
故障現象③:產氫超過預定的壓力0.1MPa
故障原因:(1)自動跟蹤裝置擋光板錯位或脫落;(2)光電耦合損壞。
檢查方法:(1)目測;(2)用萬用表測量電路。
排除方法:(1)前面板上的壓力達到0.3MPa時關閉電源,把擋光板安裝在合理的位置上,打開電源開關輕輕敲緊擋光板即可;(2)更換損壞的光電耦合元件。
故障現象④:發生器能啟動但氫氣的數顯顯示為0或黑屏。
故障原因:數字顯示表損壞。
檢查方法:用萬用表測量電路。
排除方法:更換數字顯示表。
故障現象⑤:開機后,產氫量達不到300ml/min或需要很長時間才能達到
故障原因:(1)電解液失效;(2)開關沒有旋緊,有漏氣現象。
檢查方法:(1)觀察電解液的液面是否低于下限或電解液使用半年以上;(2)試漏。
排除方法:(1)智能氫氣發生器及時添加二次蒸餾水或去離子水?;驅⑿屡渲玫睦鋮s后電解液(母液)倒人儲液桶內,再加入二次蒸餾水或去離子水,水位在水位線上下限之間(氫氧化鉀溶液的濃度為l0%左右),擰上外蓋,10min后即可使用;(2)繼續旋緊開關,使儀器的壓力和流量達標。
故障現象⑥:開機使用后,產氫量無法穩定,一直在小范圍內波動
故障原因:電解液失效。
檢查方法:觀察電解液的液面是否低于下限或電解液使用半年以上。
排除方法:新配置l0%的氫氧化鉀電解液進行更換或加水。
故障現象⑦:開機后,產氫量從幾十ml/min緩慢增長,其壓力無法在rin時間內達到0。3MPa
故障原因:電解池漏。
檢查方法:目測。
排除方法:(1)電解池用臺鉗夾緊后上緊螺絲;(2)密封處用平面密封膠粘牢;(3)無法修復的機械損壞,要更換電解池。
故障現象⑧:儀器腐蝕嚴重無法使用
故障原因:(1)搬運時未將電解液用吸耳球吸干凈;(2)未將內蓋及外蓋擰好,使殘留的電解液在運輸時外溢。
檢查方法:目測。
排除方法:更換智能氫氣發生器。
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