法國(guó)可替代能源和原子能委員會(huì)(The French Alternative Energies and Atomic Energy Commission，CEA) 是法國(guó)重要的研發(fā)機(jī)構(gòu)，旨在協(xié)調(diào)和推動(dòng)法國(guó)在低碳能源(核能和可再生能源)、國(guó)防和安全（數(shù)字科學(xué)）、工業(yè)技術(shù)、自然科學(xué)和生命科學(xué)方面的研究和發(fā)展。CEA與許多研究機(jī)構(gòu)、高校、地方當(dāng)局和企業(yè)建立了緊密的合作關(guān)系，在法國(guó)的產(chǎn)業(yè)競(jìng)爭(zhēng)戰(zhàn)略中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。CEA Tech 作為CEA的技術(shù)研究部門，憑借其廣泛認(rèn)可的專業(yè)知識(shí)和獨(dú)特的文化理念和創(chuàng)新能力，為企業(yè)提供由CEA運(yùn)營(yíng)部門開發(fā)的核心產(chǎn)能技術(shù)，有效地彌合了科研（學(xué)術(shù)）和商業(yè)化（應(yīng)用）之間的差距，為工業(yè)開發(fā)和新技術(shù)傳播做出了巨大貢獻(xiàn)。[1]

CEA Tech擁有三個(gè)實(shí)驗(yàn)室：Leti、Liten和List，主要開發(fā)信息通訊技術(shù)（Information and Communication Technologies，ICTs）、能源和醫(yī)療領(lǐng)域的一系列技術(shù)產(chǎn)品。其中，CEA-Leti（Laboratoire d’ èlectronique des technologies de I’information）成立于1967年，是CEA Tech下屬的一家技術(shù)科研機(jī)構(gòu)，也是法國(guó)的39個(gè)卡諾研究所之一，與來自不同領(lǐng)域多達(dá)220家的公司開展研發(fā)項(xiàng)目，主研方向涉及微納技術(shù)，微納機(jī)電系統(tǒng)(MEMS和NEMS)。Leti提供廣泛的技術(shù)服務(wù)，涵蓋MEMS和NEMS的整個(gè)開發(fā)周期，解決傳感器、開關(guān)、射頻組件、3D集成、表征和可靠性測(cè)試等問題，打破學(xué)術(shù)與產(chǎn)業(yè)之間的壁壘，成功地將研究成果轉(zhuǎn)移到工業(yè)世界。[2]

毋庸置疑，科研產(chǎn)業(yè)化離不開先進(jìn)分析技術(shù)的支持。由CEA-Liten、CEA-Leti等聯(lián)合運(yùn)營(yíng)的納米表征平臺(tái)（Nanocharacterization Platform，PFNC）擁有大約50臺(tái)先進(jìn)的表征設(shè)備，包括XPS、TOF-SIMS、Nano Auger、WAXS、SAXS 、EBSD SEM、TEM、HR-TEM、FIB SEM (3D) 、Raman和FTIR等，涉及樣品制備、表面和離子束分析、掃描和透射電子顯微鏡、x射線成像以及分子光譜學(xué)等，以此獲取材料表面、界面和內(nèi)部特性的信息，研究人員結(jié)合多個(gè)信息源可以創(chuàng)建多尺度分析，并通過關(guān)聯(lián)來自不同工具的數(shù)據(jù)做出更可靠的分析，在CEA的成果轉(zhuǎn)化中起著重要作用。[3] 特別地，CEA-Leti先后在ULVAC-PHI購(gòu)買了AES（PHI 700）、XPS（PHI VersaProbe Ⅱ和Quantes）以及TOF-SIMS（nano TOF Ⅱ）,這些設(shè)備為CEA的研究工作提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。

Olivier Renault博士是CEA-Leti計(jì)量與物理表征部門的首席科學(xué)家，也是納米表征平臺(tái)表面分析小組的負(fù)責(zé)人，主要致力于光電發(fā)射技術(shù)、分析設(shè)備以及相關(guān)材料表征方法的研究，包括利用X射線光電子能譜(XPS)、硬X射線光電子光譜學(xué)(HAXPES)、光電發(fā)射電子顯微鏡(PEEM)和同步輻射技術(shù)進(jìn)行元素、化學(xué)態(tài)、功函數(shù)和能帶結(jié)構(gòu)成像分析等，在相關(guān)領(lǐng)域已發(fā)表SCI文章60余篇。Olivier Renault博士利用PHI Quantes 設(shè)備的Cr Kα (5414.8 eV) X射線源開展了大量HAXPES測(cè)試工作。[4]

ULVAC-PHI作為全 球技術(shù)領(lǐng)先的表面分析儀器廠商，一直致力于開發(fā)最 先進(jìn)的儀器設(shè)備和提供最 優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)，力圖幫助用戶解決科研和生產(chǎn)中的相關(guān)難題，共同推動(dòng)表面分析技術(shù)的發(fā)展。

參考資料：

[1]https://www.cea-tech.fr/cea-tech/english

[2]https://www.leti-cea.fr/cea-tech/leti

[3]https://liten.cea.fr/cea-tech/liten/english/Pages/Work-with-us/Technology-platforms/Nanocharacterisation.aspx

[4]DOI:10.1116/6.0001508, DOI:10.1116/6.0001509, 

DOI:10.1116/6.0001510, DOI:10.1116/6.0001511, 

DOI:10.1116/6.0001512, DOI: 10.1116/6.0001513