會議邀請 

“西北五省第十三屆電鏡學(xué)術(shù)交流及技術(shù)研討會”將于 2023 年 6 月 9 日 - 12 日在甘肅省蘭州市蘭州大學(xué)舉辦。此次會議是西北五省規(guī)模最 大、影響力最 強的電子顯微學(xué)盛會。本次會議將采用會前培訓(xùn)、會議中專家報告、學(xué)術(shù)座談、廠商報告和廠家現(xiàn)場設(shè)備使用技術(shù)培訓(xùn)形式。專家學(xué)者將齊聚一堂，共赴這場電鏡盛會。

會議時間：2023 年 6 月 9 日 - 12 日

會議地點：蘭州大學(xué)電鏡中心

復(fù)納科技致力于為實驗室樣品制備與檢測提供智能、高效、可靠的高科技解決方案。其中飛納臺式掃描電鏡作為全 球 領(lǐng) 先的桌面式掃描電鏡，憑借操作簡單、成像質(zhì)量高和效率高等優(yōu)勢成為眾多研究人員的選擇。在本次會議中，我們也將現(xiàn)場展示飛納電鏡能譜一體機 ProX，由工程師現(xiàn)場開展電鏡技能培訓(xùn)與問題答疑，歡迎大家前來上機測試。

會議報告/ FUNA

本次會議中，復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理萬正宇將帶來“DENSsolutions 基于 MEMS 的原位透射電鏡技術(shù)發(fā)展 ＆ STEM 在飛納臺式電鏡上的應(yīng)用”主題報告，為大家分享最 新的原位實驗方案與 STEM 表征。歡迎各位專家老師和我們一起探討交流！

01

Pharos - STEM

作為全 球 唯 一臺式場發(fā)射 Pharos-STEM 電子顯微鏡，在較低的加速電壓下，可減少電子束對樣品的損傷，顯著提高了圖像的襯度。Pharos STEM 電子顯微鏡，利用 FEG 高亮度電子源，可在透射模式下對薄樣品進行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡 (TEM) 載網(wǎng)，實現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場 (BF) 、暗場 (DF) 和高角度環(huán)形暗場 (HAADF) 像，并支持自定義選擇成像模式。

02

DENSsolutions

DENS 產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象。目前提供的四種原位實驗方案：Wildfire TEM 原位加熱方案、Lightning TEM 原位熱電方案、Climate TEM 原位氣相加熱方案和 Stream TEM 原位液相加熱 / 加電方案，已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。

03

Technoorg Linda

復(fù)納科技擁有 Technoorg Linda 離子研磨儀，采用離子束技術(shù)，可對樣品進行快速研磨及表面精細加工和最 終拋光。是 SEM / TEM 樣品表面處理的有力工具。

04

NEOSCAN

Neoscan 臺式顯微 CT 采用先進 X 射線成像技術(shù)，分辨率高，對場地要求少，緊湊便攜，適用于實驗室和研究機構(gòu)日常使用。

歡迎各位老師蒞臨展位與我們探討交流，我們隨時為您提供專業(yè)的解答與支持，現(xiàn)場也有精美小禮品相送噢！

2023 年 6 月 15 - 16 日，行業(yè)矚目的第六屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會將在寧波舉辦。本次峰會是一場汽車零部件行業(yè)的重要盛事，旨在推動清潔度控制技術(shù)的創(chuàng)新和應(yīng)用，搭建行業(yè)交流平臺，加強行業(yè)間的合作。此次峰會的參與群體廣泛，與會者將包括業(yè)內(nèi)的專家學(xué)者、技術(shù)研發(fā)人員、質(zhì)量管理專家以及行業(yè)領(lǐng)軍企業(yè)的代表，共同探討汽車零部件清潔度控制技術(shù)的最 新趨勢、挑戰(zhàn)和解決方案。

時間：2023 年 6 月 15 日 - 16 日

地點：寧波北侖世茂希爾頓逸林酒店

清潔度一般指汽車零件、總成及整機等部位被顆粒物污染的程度，用規(guī)定的方法從特定的部件采集到顆粒物的質(zhì)量、大小、形狀、數(shù)量、材料種類等特征參數(shù)來表征。具體采用何種方法及指標(biāo)對顆粒物進行測試分析，取決于不同顆粒物對部件性能的影響程度及清潔度控制精度要求。

飛納電鏡產(chǎn)品經(jīng)理

劉曉龍

本次會議中，飛納電鏡產(chǎn)品經(jīng)理劉曉龍將帶來“動力電池中各類金屬異物的影響及其檢測方法”的主題報告，為大家分享飛納在清潔度檢測的最 新解決方案。

報告時間：

2023 年 6 月 16 日上午 09:30-10:00

飛納 ParticleX 全自動汽車清潔度分析系統(tǒng)，以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動對顆粒或雜質(zhì)進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計，允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。

該過程完全符合 ISO 16232 和 VDA 19 要求。只需一鍵，即可自動分析 4 片直徑 47mm 的濾膜，無需人員值守，可連續(xù)運行，并且一鍵生成報告，更有效率地監(jiān)控過程清潔度。

ParticleX汽車清潔度分析

在傳統(tǒng)燃油汽車領(lǐng)域，硬度較高的顆粒物（如Al2O3、SiO2 等）危害性更大，因此受到各大主機廠商的特別關(guān)注，在其清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)中，往往把硬質(zhì)顆粒物作為第 一優(yōu)先關(guān)注點。從燃油汽車到電動汽車，電池成本占到整車成本的 30% 以上，清潔度檢測的關(guān)注點也發(fā)生了改變。對動力電池生產(chǎn)來說，金屬異物（如銅、鋅、鐵、鉻、鎳等）會導(dǎo)致電池短路，有極大的安全隱患，需要嚴(yán)格管控和自動快速的檢測方法。

ParticleX Battery

由上海智能新能源汽車科創(chuàng)功能平臺有限公司主辦的“2022 新能源鋰離子電池失效分析解析與測試技術(shù)研討會”將于 2022 年 12 月 13 - 14 日在上海國際汽車城瑞立酒店舉行。

本次會議聚焦新能源鋰離子電池全生命周期失效分析解析技術(shù)，重 點關(guān)注不同體系、不同類型電池的熱失控機理、失效原因、材料表征、電解液及氣體分析等問題，與參會嘉賓們一起開展深度地技術(shù)交流。

飛納作為全 球領(lǐng)先的桌面掃描電子顯微鏡供應(yīng)商，專注于為亞微米級和納米級應(yīng)用的成像提供解決方案。針對鋰電行業(yè)痛點，我們在鋰電清潔度分析以及高通量電極材料表面包覆加工生產(chǎn)方面為客戶提供自動化解決方案，幫助研究人員更加高效地完成研發(fā)與生產(chǎn)工作。歡迎各位蒞臨飛納展臺和我們共同探討交流。與此同時，我們也為與會人員準(zhǔn)備了精美禮品。飛納定制保溫杯、樂高、三合一數(shù)據(jù)線等禮物等您來拿！

飛納電鏡展位號：12號

會議時間：2022 年 12 月 13 - 14 日

會議地點：上海國際汽車城瑞立酒店

會議報告

鋰電池中的銅、鋅、鐵等金屬異物可能導(dǎo)致嚴(yán)重的安全事故，對金屬異物的管控也已成為行業(yè)共識。在本次大會中，我們也將圍繞這一問題帶來精彩的報告，介紹飛納電鏡在金屬異物管控的最 新應(yīng)用進展，進而幫助改善生產(chǎn)條件，減少安全事故的發(fā)生。

報告主題

掃描電鏡在鋰電池金屬異物管控中的應(yīng)用

主講人

劉曉龍

飛納電鏡清潔度分析系統(tǒng)產(chǎn)品經(jīng)理

報告時間

2022年12月14日 15:00-15:30

報告地點

上海國際汽車城瑞立酒店二樓會議報告廳

展品推薦

ParticleX LB 鋰電清潔度分析系統(tǒng)

復(fù)納

INVITATION

微納科技與先進材料創(chuàng)新大會（2023）將于 6 月 10 日 - 12 日在重慶舉辦。本次會議旨在凝聚優(yōu)勢力量、加強納米科學(xué)與微納制造技術(shù)的基礎(chǔ)研究與應(yīng)用研究，促進多學(xué)科交叉融合，促進先進材料產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展。

時間：2023 年 6 月 10 日 - 12 日

地點：重慶兩江云頂大酒店

復(fù)納科技展位號：7 號

新興的微納材料在電子、通信和物聯(lián)網(wǎng)、能源存儲、化工和燃料生產(chǎn)、醫(yī)療保健、藥物輸送等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。納米材料的性質(zhì)與其組成和表面形貌有很大的關(guān)系，復(fù)納科技擁有一系列高精尖的分析檢測儀器與先進的解決方案，可以對納米材料進行分析表征和改性。歡迎各位老師同行蒞臨【7】號展位，和我們一起探討交流！

莊思濛 復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理

報告時間：

6月12日 16:05-16:25

本次會議中，復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理莊思濛將在“微納技術(shù)在新能源電池領(lǐng)域中的應(yīng)用技術(shù)”分會場帶來《電池粉末原子層沉積包覆改性及原位電鏡表征方案》的主題報告。

1、Phenom-飛納臺式掃描電鏡

飛納臺式掃描電鏡操作簡單，效率高，成像質(zhì)量高，其優(yōu)異的低真空模式可實現(xiàn)無需噴金直接觀察不導(dǎo)電樣品。最 新的第二代場發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2 分辨率優(yōu)于 1.5nm，是分辨率最 高的臺式掃描電鏡，是納米材料表征的強有力工具。

Phenom Pharos G2

飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡

Phenom XL G2

飛納臺式掃描電鏡大樣品室卓 越版

Phenom ProX

飛納臺式掃描電鏡能譜一體機

2、Forge Nano-原子層沉積系統(tǒng)

ALD 原子層沉積技術(shù)已被證明可用于多種組分以及納米結(jié)構(gòu)的制備，包括單原子 / 團簇催化劑、鋰電材料表面包覆等等。Forge Nano 設(shè)備基于 ALD 工藝可實現(xiàn)從毫克到千噸級的粉末包覆處理量，能夠有效提高電池化學(xué)性能與安全性。

3、DENSsolutions-TEM 原位實驗方案

DENS 產(chǎn)品可以為 TEM 樣品施加外界刺激，實現(xiàn)在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種條件，捕捉 TEM 樣品在真實環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象。目前提供的四種原位實驗方案：Wildfire TEM 原位加熱方案、Lightning TEM 原位熱電方案、Climate TEM 原位氣相加熱方案和 Stream TEM 原位液相加熱 / 加電方案。

Wildfire 原位加熱樣品桿

Lightning 原位熱電樣品桿

Lightning 原位熱電樣品桿

Stream 原位液相加熱/加電樣品桿

Climate 原位氣相加熱樣品桿

4、VSParticle-全自動納米研究平臺

VSParticle 設(shè)備采用火花燒蝕制備納米顆粒的技術(shù)，可對產(chǎn)生的顆粒進行粒徑的控制，從而獲得不同粒徑中位值的單分散納米氣溶膠。此外該技術(shù)也能用于進行快速打印以及粉末表面的納米沉積。

歡迎各位老師蒞臨展位與我們探討交流，我們將隨時為您提供專業(yè)的解答與支持，現(xiàn)場也有精美小禮品相送噢！

SEMICON CHINA 2023 將于 6 月 29 日 - 7 月 1 日在上海新國際博覽中心盛大召開。這是一個覆蓋芯片設(shè)計、制造、封測、設(shè)備、材料、光伏、顯示等全產(chǎn)業(yè)鏈攜手合作，全 球規(guī)模最 大、最 具影響力的半導(dǎo)體專業(yè)展。來自五湖 四海的專家學(xué)者將齊聚一堂，共赴這場半導(dǎo)體嘉年華！

時間

2023 年 6 月 29 日 - 7 月 1 日

地點

上海新國際博覽中心

展位：E2 館 E2549 號

半導(dǎo)體材料一直以來都是芯片制造的“基石”，是推動集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展創(chuàng)新的重要基礎(chǔ)。不管是制造還是封測，半導(dǎo)體材料幾乎貫穿整個集成電路制造過程。硅是今天最常用的半導(dǎo)體材料，其他還有各種復(fù)合半導(dǎo)體材料。應(yīng)對如此多樣的材料以及復(fù)雜的工藝，需要耗費大量時間精力。

飛納電鏡可以滿足多樣化的材料檢測需求以及復(fù)雜的制程工藝管控，可以實現(xiàn)缺陷和形貌觀察以及物性失效分析，為您提供高效、簡單、精確的半導(dǎo)體解決方案，幫助您提升工藝良率。現(xiàn)場也將有 Phenom XL G2 大樣品室卓 越版展出，歡迎各位老師蒞臨【E2 館 E2549 號】展臺測試，共同探討交流。

應(yīng)用案例

IC 封裝測試失效分析

1、對失效位置進行切割

2、離子研磨儀中進行切割

3、位置1. 放大后發(fā)現(xiàn)此處未連接

4、位置2. 放大后發(fā)現(xiàn)此處開裂

為推進公 安刑事技術(shù)“專業(yè)化、規(guī)范化、信息化、職業(yè)化”建設(shè)，推動指紋檢驗技術(shù)建設(shè)發(fā)展與實戰(zhàn)應(yīng)用水平，由公 安部鑒定中心主辦，江蘇省公 安廳、揚州市公 安局承辦，北京瑞源弘德科技有限公 司（弘德網(wǎng)）協(xié)辦的“第七屆全國指紋檢驗技術(shù)建設(shè)發(fā)展與實戰(zhàn)應(yīng)用研討會”（以下簡稱指紋研討會）將于 2023 年 4 月 20 日 - 21 日在江蘇省揚州市舉辦。

會議時間：2023 年 4 月 20 日 - 21 日

會議地點：揚州會議中心

由于當(dāng)代微量物證越來越向綜合檢驗的方向發(fā)展，利用掃描電鏡進行微觀形態(tài)和元素成分檢驗已成為必不可少的環(huán)節(jié)。飛納電鏡可以同時提供物證的微觀形貌和元素成分信息，實現(xiàn)快速微量物證鑒定。在交通事故痕跡鑒定、火災(zāi)爆 炸 物微量物證鑒定、指紋鑒定、毒品輔助鑒定、法醫(yī)硅藻識別、槍支殘留物鑒定等方面有著廣泛應(yīng)用。我們致力于提供高效的高科技辦案工具，為公 安行業(yè)賦能。歡迎各位老師朋友們蒞臨展臺，和我們一起探討交流！

溺亡案件中，硅藻作為重要物證，其檢測往往耗時耗力。硅藻 AI 自動檢測系統(tǒng)（電鏡）Diatom AI 基于掃描電鏡，依托刑科所權(quán)威法醫(yī)科研平臺，融合最 先 進的深度學(xué)習(xí)人工智能技術(shù)開發(fā)完成，可以自動識別不同種類、不同大小的硅藻，并對其進行統(tǒng)計分析。硅藻 AI 自動檢測系統(tǒng)（光鏡）Diatom AI OM 是基于光學(xué)顯微鏡的自動掃描系統(tǒng)，搭載與廣州市物證中心研發(fā)的硅藻數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)硅藻的全自動檢測，助力溺亡案件的偵破真相。

槍擊殘留物自動分析系統(tǒng) Phenom GSR 基于掃描電鏡的背散射成像，掃描樣品發(fā)現(xiàn)“可疑”的 GSR 顆粒，并結(jié)合能譜識別該顆粒的元素。該系統(tǒng)軟件硬件一體化的設(shè)計，實現(xiàn)了用戶操作的便利性、可靠性和快速分析，是槍支犯罪案件分析的利器。

飛納電鏡第三場線下用戶培訓(xùn)會要來廣州啦！本次培訓(xùn)會誠摯邀請各位用戶朋友們來到飛納電鏡最 佳 Demo 室——廣州國際生物島，讓我們一起開啟為期兩天的電鏡培訓(xùn)之旅吧！

* 若有時間沖突，請于培訓(xùn)開始前告知。

培訓(xùn)·流程

6月29日

6月30日

期待您的到來！

一般來說，芯片在研發(fā)、生產(chǎn)過程中出現(xiàn)錯誤是不可避免的，哪里出了問題不僅要解決問題，還要思考為什么會出現(xiàn)問題。隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要。

失效分析主要步驟和內(nèi)容  

• 芯片開封

• SEM 掃描電鏡 / EDX 成分分析——飛納電鏡

• FIB 聚焦離子束顯微鏡

• 定點/非定點芯片研磨——離子研磨

• 鐳射切割

• EMMI 偵測

• OBIRCH 應(yīng)用（鐳射光束誘發(fā)阻抗值變化測試）

• LG 液晶熱點偵測

• X-Ray 無損偵測

• SAM (SAT) 超聲波探傷

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 納問檢測服務(wù) 

納問實驗室以 “高通量、最便捷、質(zhì)量高、服務(wù)好” 為宗旨，為客戶提供最 優(yōu)質(zhì)的掃描電鏡測試服務(wù)。提供包括常規(guī)掃描電鏡形貌 / 能譜檢測，SEM 粒徑 / 孔洞 / 纖維 / 粗糙度分析。可提供背散射電子像 / 二次電子像 + EDS 能譜分析，同時在配套的功能軟件的幫助下，獲得更為全面的樣品信息。

彩蛋來啦！

本次活動將抽取一名幸運觀眾，為您免費測樣。

測試使用設(shè)備：僅限使用飛納臺式掃描電鏡

申請方式：需將您的樣品圖片（.jpg）及拍攝需求（文字信息）及聯(lián)系方式（單位姓名電話），發(fā)送至聯(lián)系人郵箱

聯(lián)系人：Jessica

郵箱：jessica.li@phenom-china.com

隨著行業(yè)法規(guī)的逐步深入，工藝技術(shù)的逐漸升級，清潔度的要求也越來越高。控制產(chǎn)品清潔度的重要性和復(fù)雜性也越來越被大家所關(guān)注。

2020 年，第三屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會將帶領(lǐng)大家：

●聚焦 汽車清潔度的法規(guī)和政策

●關(guān)注 清潔度控制新工藝和新設(shè)備

●跟蹤 關(guān)鍵零部件清潔度的要求提升和優(yōu)化

●分享 汽車行業(yè)清潔度控制成果和經(jīng)驗

●交流 汽車領(lǐng)域的清潔度新挑戰(zhàn)

●開發(fā) 清潔度新市場

會議時間：2020 年 9 月 24 日 - 25 日

會議地點：上海金地嵐韻酒店

飛納會議報告

報告主題：

基于電鏡的汽車清潔度和鋰電清潔度自動化檢測方案——Particle X

報告時間：

2020 年 9 月 25 日上午 10:00-10:30

Phenom ParticleX 全自動清潔度分析系統(tǒng)集成了掃描電鏡和能譜儀，相比傳統(tǒng)的重量法和光鏡法能更有效率地監(jiān)控過程清潔度。傳統(tǒng)的方法只能提供清潔部件上大顆粒灰塵和碎片的總體重量或形狀信息，而不能全面分辨顆粒的污染源。Phenom ParticleX 取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測方法，允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源。

使用自動化 SEM-EDX 解決方案實現(xiàn)粒度、形狀和化學(xué)成分的快速、便捷分析：

●顆粒粒度分布 – zui全面的顆粒粒度范圍

●顆粒形貌分析 – 多種測量方法可供選擇

●雜質(zhì)顆粒檢測 – 可檢測出數(shù)千顆粒中夾雜的微量雜質(zhì)顆粒

●高分辨率成像 – 10 nm 分辨率

參加第三屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會與飛納電鏡一起探究清潔度檢測最 新解決方案！