珀金埃爾默SEMICON China 2025展會精彩回顧
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2025年3月26日至28日，攜最新半導體技術解決方案亮相SEMICON China 2025展會（展位號：N1館1623）。在為期三天的展會中，我們不僅展示了行業領先的檢測分析技術，還通過線上直播與觀眾深度互動，共同探討半導體全產業鏈的應用與發展。以下是本次展會的精彩回顧！
展臺亮點：前沿技術，全面呈現
作為分析儀器領域的領先者，在無機光譜質譜、有機色譜質譜、分子光譜及材料表征等多個領域處于行業前沿。
在本次展會中，中國區半導體行業銷售總監黃清發先生為現場及線上觀眾深入講解了全面覆蓋半導體制程的分析檢測技術解決方案。同時，他還重點推薦了兩款明星產品——“NexION 5000 ICP-MS”和“GCMS 2400氣相色譜質譜平臺”，展現了公司在半導體檢測領域的創新實力與技術優勢。
△明星產品介紹
精彩不斷，干貨不停。本次展會，技術團隊也給線上觀眾帶來了多項新技術和各類解決方案，涵蓋半導體晶圓AMC檢測、設備材料分析、特氣檢測等領域，全方位滿足半導體行業的復雜需求。以下是我們重點技術內容展示：
1. 半導體晶圓AMC檢測技術
針對半導體晶圓制造中對空氣分子污染物（AMC）的嚴格要求，技術團隊詳細介紹了如何通過先進手段實現對硅片及半導體材料中微量元素的精準分析。同時，還重點介紹了色譜質譜技術在半導體生產環境中揮發性有機物（VOCs）監測中的創新應用與實際案例，為半導體制造過程中的空氣質量控制增添利器。
2. 半導體設備材料分析檢測
針對半導體設備材料的性能、純度和特性，提供了全方位的分析檢測方案。這一技術如同“質量衛士”，確保半導體設備在不斷升級的科技浪潮中穩定運行。
3. 半導體特氣檢測技術
隨著半導體技術向高精度、高性能方向發展，特氣質量的要求愈發嚴苛。的特氣檢測技術能夠精準測量硅烷、氨氣、磷化氫等氣體的純度與雜質含量，為客戶提供可靠的保障。
大咖對話：共話半導體未來
除了技術展示，還邀請了多位行業專家進行專訪，分享他們在半導體領域的真知灼見。
01
普羅風創始人李沖博士
李博士詳細解讀了杭州市半導體AMC風險主動防控聯合實驗室的研究成果，強調了精密儀器在AMC檢測體系中的核心地位。
02
富樂德股份有限公司
銷售部長劉林先生
資深技術應用工程師金奇梅女士
劉林先生對富樂德集團公司做了詳細介紹，金奇梅女士分享了富樂德在半導體設備零部件質量把控方面的專業經驗，并分享了微污染檢測的挑戰及應對策略。
03
上海啟元氣體發展有限公司
董事長俞俊先生
俞董事長期待與深化合作，共同推動半導體制程優化，迎接行業新機遇。
△行業大咖齊聚，共話半導體未來
展望未來：攜手共贏
始終致力于為半導體行業提供高質量的分析檢測解決方案。未來，我們將繼續深耕技術創新，與合作伙伴共同推動半導體產業邁向新的高度。
△精彩回顧
感謝所有參與本次展會的嘉賓、觀眾以及合作伙伴的支持！期待明年SEMICON China再見！
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