【參展信息】馬爾文帕納科晶向定位分析設(shè)備亮相Semicon China 2024
展期：2024年3月20日-22日
展館：上海新國(guó)際博覽中心
地址：上海市浦東新區(qū)龍陽(yáng)路2345號(hào)
聯(lián)合展位：N2-2618
攜手五載，心芯相連，密不可分。3月20日至22日，（Malvern Panalytical）將再次與思百吉旗下另外兩家兄弟公司：美國(guó)粒子監(jiān)測(cè)系統(tǒng)公司（PARTICLE MEASURING SYSTEMS）和仕富梅（SERVOMEX） 聯(lián)合參加在上海新國(guó)際博覽中心舉行的Semicon China 2024 上海國(guó)際半導(dǎo)體展，為半導(dǎo)體行業(yè)帶來涉及化合物半導(dǎo)體薄膜測(cè)量、晶向定位、超凈間粒子監(jiān)測(cè)以及氣體傳感器等分析測(cè)試解決方案。期待您蒞臨展位，共同探討分析測(cè)試儀器在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用與發(fā)展。
N2-2618聯(lián)合展位效果圖
此次，除半導(dǎo)體行業(yè)享譽(yù)盛名的薄膜分析解決方案外，更是將Z新引入公司的晶向定位產(chǎn)品線在Semicon China上進(jìn)行海報(bào)展示和方案推介，Crystal orientation 系列產(chǎn)品進(jìn)一步豐富了高端XRD產(chǎn)品線，從晶棒、鑄錠、切片、到晶圓制程，芯片生產(chǎn)的每一步，都將為您提供高品質(zhì)、高精度的分析測(cè)試，進(jìn)一步提高您的研發(fā)效率和產(chǎn)品良率。值得期待！
半導(dǎo)體行業(yè)解決方案
晶向定位系列
XRD
向下滑動(dòng)查看所有內(nèi)容
高分辨衍射
HDXRD
X'Pert3 MRD 和 X'Pert3 MRD XL 高分辨 X 射線衍射儀能夠提供完整、無需校準(zhǔn)且準(zhǔn)確的晶體生長(zhǎng)信息，比如材料成分、薄膜厚度、漸變層圖譜、晶相和界面層質(zhì)量。此外，MRD平臺(tái)還可用于對(duì)基板和薄膜中的缺陷進(jìn)行高分辨率形貌成像，如馬賽克特性和缺陷密度。該儀器可用于研究和生產(chǎn)環(huán)境中。在生產(chǎn)過程中，它可與自動(dòng)晶片裝載結(jié)合使用。解決方案適用于：
用于5G，光通訊，高功率器件以及Si、GaN、GaAs等材料結(jié)構(gòu)質(zhì)量控制的高分辨X射線衍射儀
全自動(dòng)測(cè)定成分，厚度和結(jié)晶質(zhì)量
非破壞性分析，超高精度
橫向均勻性測(cè)量
多功能智能衍射
XRD
第三代Empyrean Multicore銳影智能衍射儀，可無需人工干預(yù)自行切換光路系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)包含多種薄膜材料分析在內(nèi)的多種廣泛的實(shí)驗(yàn)。其核心是iCore和dCore模塊，借助該模塊，您可以在單個(gè)批處理中自動(dòng)采集各種測(cè)量類型，得益于有自動(dòng)組件設(shè)置，Empyrean銳影完全兼容受監(jiān)管環(huán)境，可滿足多應(yīng)用需求的科研或研發(fā)實(shí)驗(yàn)室。
晶圓分析儀
WDXRF
2830ZT晶圓分析儀專門針對(duì)半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)而設(shè)計(jì)，能提供多種薄膜的厚度和成分信息，為多種晶片（直徑達(dá)300mm）測(cè)定層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性。憑借出色的輕元素分析性能（包括硼）和每小時(shí)高達(dá)25片晶片的樣品處理能力，2830 ZT 成為半導(dǎo)體行業(yè)中出眾的薄膜測(cè)量工具。適用于：
Logic，NAND，F(xiàn)lash，PRAM，DRAM，MRAM及圓晶代工制程的過程控制
SAW、BAW、FERAM、GMR/TMR存儲(chǔ)器、硬盤
絕緣體和隔層
內(nèi)部導(dǎo)線和金屬膜
鍍膜系統(tǒng)鑒定，如CVD、PVD
上海新國(guó)際博覽中心（SNIEC）
地鐵7號(hào)線：終點(diǎn)花木路1號(hào)出口即到走2號(hào)登記大廳
出租車停靠地點(diǎn)：芳甸路花木路路口走2號(hào)登記大廳
自駕車：停靠在花木路羅山路路口走3號(hào)登記大廳
聯(lián)合展位位于N2展廳2618展位
Welcome to MP booth
期待與您展館見！
>>> 關(guān)于
的使命是通過對(duì)材料進(jìn)行化學(xué)、物性和結(jié)構(gòu)分析，打造出更勝一籌的客戶導(dǎo)向型創(chuàng)新解決方案和服務(wù)，從而提高效率和產(chǎn)生可觀的經(jīng)濟(jì)效益。通過利用包括人工智能和預(yù)測(cè)分析在內(nèi)的Z近技術(shù)發(fā)展，我們能夠逐步實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。這將讓各個(gè)行業(yè)和組織的科學(xué)家和工程師可解決一系列難題，如Z大程度地提高生產(chǎn)率、開發(fā)更高質(zhì)量的產(chǎn)品，并縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。
聯(lián)系我們
銷售熱線：+86 400 630 6902
售后熱線：+86 400 820 6902
聯(lián)系郵箱：info@malvern.com.cn
官方網(wǎng)址：www.malvernpanalytical.com.cn
全部評(píng)論(0條)
推薦閱讀
-
- 【參展信息】馬爾文帕納科晶向定位分析設(shè)備亮相Semicon China 2024
- 3月20日，馬爾文帕納科晶向定位及薄膜測(cè)量產(chǎn)品即將亮相Semicon！
-
- 馬爾文帕納科醫(yī)藥行業(yè)完整解決方案
- 文中可下載馬爾文帕納科和麥克默瑞提克的醫(yī)藥行業(yè)解決方案
-
- 馬爾文帕納科科技獎(jiǎng) | 分享你的研究成果贏取2000歐元！
- 2024年馬爾文帕納科科學(xué)獎(jiǎng)開放申請(qǐng)！
-
- 【參展信息】智能的粒度分析即將亮相CPHI& PMEC China 2024 制藥機(jī)械展
- 6月19-21日，馬爾文帕納科全新升級(jí)智能粒度分析儀即將亮相PMEC China 2024！
-
- 邀請(qǐng)函 | 亞科電子搭載TESCAN半導(dǎo)體封裝失效分析方案奔赴 SEMICON CHINA 2024
- 來亞科電子展臺(tái)（N2431, N2館）了解TESCAN半導(dǎo)體封裝檢測(cè)失效分析解決方案吧。
-
- XRD高速晶向定位系列方案
- 切割，研磨和拋光的晶向定位
-
- 鄭州長(zhǎng)城科工貿(mào)邀您參展CPHI China 2024
- 鄭州長(zhǎng)城科工貿(mào)有限公司邀您參加第二十二屆世界制藥原料中國(guó)展暨第十七屆世界制藥機(jī)械、包裝設(shè)備與材料中國(guó)展，上海新國(guó)際博覽中心（浦東）不見不散
-
- 【展會(huì)邀請(qǐng)】科冪儀器誠(chéng)邀您參加CPHI China 2024｜多款新型設(shè)備亮相+現(xiàn)場(chǎng)直播
- 用專業(yè)和品質(zhì)加速科研
-
- 馬爾文zeta電位分析儀原理
- 本文將深入解析馬爾文Zeta電位分析儀的核心工作機(jī)制及其在實(shí)際應(yīng)用中的重要性，為科研及工業(yè)生產(chǎn)提供科學(xué)指導(dǎo)。
-
- 馬爾文zeta電位分析儀的用途
- 本文將詳細(xì)探討馬爾文Zeta電位分析儀在多個(gè)領(lǐng)域中的廣泛用途，涵蓋其在材料科學(xué)、制藥、環(huán)境監(jiān)測(cè)及食品工業(yè)中的實(shí)際應(yīng)用，并揭示其在現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中的重要性。
-
- 助力高校設(shè)備更新——萊伯泰科精彩亮相“2024天津大學(xué)儀器設(shè)備展示會(huì)”
- 萊伯泰科攜多款自主研發(fā)的高性能科研儀器及解決方案亮相，展現(xiàn)了其在國(guó)產(chǎn)化科研儀器領(lǐng)域的深厚底蘊(yùn)和持續(xù)創(chuàng)新能力。
-
- 凈信展會(huì)｜2024 CHINA LAB 廣州國(guó)際分析測(cè)試及實(shí)驗(yàn)室設(shè)備展覽會(huì)
- 春風(fēng)十里，不如在 CHINA LAB 遇見你！
-
- 納米精度 · 芯未來 | Park Systems邀您共赴SEMICON China 2025
- 2025年3月26-28日，Park Systems攜全新半導(dǎo)體解決方案登陸SEMICON China，邀您親臨E6展館6455號(hào)展位，共同探索未來微觀世界的無限可能！
-
- 益世科生物推出全新解決方案，精彩亮相BIOCHINA 2024
- 本次展會(huì)圓滿結(jié)束，期待下次相見！
-
- 新聞動(dòng)態(tài)丨天美科技亮相Sensor China 2024，與全球智慧共筑未來
- 在本次展會(huì)上，Gas Sensor憑借其前沿的技術(shù)設(shè)計(jì)和卓越的性能表現(xiàn)，引起了眾多觀眾的關(guān)注。
-
-
- 相約CHINA LAB 2024，探索屹堯科技元素分析整體解決方案
- 3月5-7日，廣州保利世貿(mào)博覽館6C34，不見不散。
-
- 【儀電分析】誠(chéng)邀您參與CPHI CHINA 2024制藥盛會(huì)
- 2024年6月19日~6月21日，“第二十二屆世界制藥原料中國(guó)展“（CPHI China 2024）
-
- 鏈接世界 擘畫未來 | 納微科技 CPHI &PMEC China 2024上海展會(huì)圓滿落幕！
- CPHI \x26amp;amp;PMEC China 20242024年6月21日，第二十二屆世界制藥原料中國(guó)展（CPHI）、第十
①本文由儀器網(wǎng)入駐的作者或注冊(cè)的會(huì)員撰寫并發(fā)布，觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表儀器網(wǎng)立場(chǎng)。若內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益，請(qǐng)及時(shí)告訴,我們立即通知作者，并馬上刪除。
②凡本網(wǎng)注明"來源：儀器網(wǎng)"的所有作品，版權(quán)均屬于儀器網(wǎng)，轉(zhuǎn)載時(shí)須經(jīng)本網(wǎng)同意，并請(qǐng)注明儀器網(wǎng)(www.189-cn.com)。
③本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明來源的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí)，必須保留本網(wǎng)注明的作品來源，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
④若本站內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益，請(qǐng)及時(shí)告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱：hezou_yiqi
最新話題
最新文章
- 移動(dòng)測(cè)繪 | Trimble MX50助力提升城市宜居環(huán)境
- 科普 | 如何制作VR內(nèi)容？
- 構(gòu)建荷蘭風(fēng)車數(shù)字孿生，輕量3D模型精準(zhǔn)基建修復(fù)
- 蔡司軟件 | ZEISS INSPECT以三維計(jì)量革新航空航天和電力與能源行業(yè)質(zhì)量管控
- 清華大學(xué)納米中心開發(fā)可規(guī)模化生產(chǎn)的SERS基底，助力高靈敏度臨床檢測(cè) Adv Mater Interfaces | 用戶成果速遞
- 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀選購(gòu)建議
- 一文看懂水質(zhì)亞氯酸鹽檢測(cè)儀：快速識(shí)別潛在健康風(fēng)險(xiǎn)
- 重塑食品安全與環(huán)保篩查標(biāo)準(zhǔn)：Vanta手持光譜儀破解鎘污染檢測(cè)難題
- 食品安全檢測(cè)儀可以檢測(cè)哪些項(xiàng)目？
- 膜蛋白研究“芯”發(fā)現(xiàn)：L1芯片的多種玩法
作者榜
廣東朗研科技有限公司
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)
參與評(píng)論
登錄后參與評(píng)論