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LET-2000D系列半導體動態參數測試系統

品牌：力鈦科
產地：廣東深圳
供應商報價：面議

深圳力鈦科技術有限公司更新時間：2025-07-22 11:44:24

銷售范圍售全國

入駐年限第1年

營業執照已審核

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產品特點

LET-2000D系列是力鈦科公司開發出的滿足IEC60747-8/9標準的半導體動態參數分析系統。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數評估、驅動設計、PCB設計等需要半導體動態參數的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導體的測試,LET-2000D有著較高的系統帶寬和測
試精度,可以有效準確的測量出實際的器件參數。

詳細介紹

硬件優勢>>>

■ 采用LECROY 12bit示波器,測試結果更準確

■ 高帶寬的電壓探測,能滿足SIC/GAN的測量要求

■ 可以滿足上/下管同時測試,避免頻繁連接探頭

■ 電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展

■ 器件驅動設計支持SIC/GAN器件

■ 可根據客戶需求定制

■ 可以增加器件的溫度特性測試

■ 硬件可以升級自動機械手

軟件特點>>>

■ 測量參數齊全:開關參數、反向恢復參數、短路參數、雪崩測試

■ 支持器件類型多:單管/模塊,MOSFET、IGBT

■ 離線數據分析:既可以在線測量,也可以記錄數據離線分析

■ 測試方式:單脈沖、多脈沖

■ 可靈活設置測試項目

■ 軟件具有較強的擴展能力

■ 測量項目及器件支持擴展

參數系統>>>

名稱	說明
采集帶寬	500 M Hz/1 GHz
采樣率	10 Gsa/S
系統電壓	DC—2000V/6000V
電壓輸出精度	±0.2%
電流	300A—3000A
短路電流	2000A—10000A
測量精度	2%量程（典型值）
驅動電壓范圍	±20V
測量參數	Vce/Vds、Ic/Id、Vgs/Vge、toff、td(off)、tf(Ic)、Eoff、Ton、 td(on)、tr(Ic)、Eon、dI/dt、dv/dt、Err、Qrr、trr、Irr等
測量項?	開關參數、反向恢復參數、短路參數、雪崩能量測試
測量器件	單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD
脈寬	20ns-1000us.
脈沖數	單脈沖、2-5脈沖
測量標準	IEC60747-8、IEC60747-9、JEDEC JEP173